විශේෂ දෘශ්‍ය තන්තු- Wasin Fujikura ඉහළ උෂ්ණත්ව ප්‍රතිරෝධී Optical Fibre Wasin Fujikura
Nanjing Wasin Fujikura ඉහළ උෂ්ණත්ව ප්‍රතිරෝධී දෘශ්‍ය තන්තු වල හොඳ දෘශ්‍ය ගුණ, විශිෂ්ට ගතික තෙහෙට්ටුව ගුණ සහ ඉහළ උෂ්ණත්ව තත්ත්ව යටතේ ඉහළ ආතන්‍ය ශක්තියක් ඇත. Wasin Fujikura සතුව අංශක 200 සහ අංශක 350 දී ඉහළ උෂ්ණත්ව ප්‍රතිරෝධී තන්තු මාලාවක් දෙකක් ඇත.
විශේෂාංගය
► හොඳ ඉහළ උෂ්ණත්ව කාර්ය සාධනයක්
► තීව්‍ර අඩු-උෂ්ණත්වයේ සහ අධික උෂ්ණත්වයේ අඛණ්ඩ චක්‍රය යටතේ ස්ථායී කාර්ය සාධනය (-55 ° C සිට 300 ° C දක්වා)
► අඩු පාඩු, පුළුල් කලාපය (පාරජම්බුල කිරණ සිට ආසන්න අධෝරක්ත කලාපය දක්වා, 400nm සිට 1600nm දක්වා)
► දෘශ්‍ය හානි හැකියාවට හොඳ ප්‍රතිරෝධයක්
► 100KPSI ශක්ති මට්ටම
► ක්‍රියාවලිය නම්‍යශීලී වන අතර විවිධ ජ්‍යාමිතිය, තන්තු පැතිකඩ ව්‍යුහය, NA සහ යනාදිය අවබෝධ කර ගැනීමට අභිරුචිකරණය කළ හැකිය.
උපරිම වැඩ කරන උෂ්ණත්වය අංශක 200 කි
|
පොලිඇක්‍රිලික් දුම්මල ආලේපනයක් ලෙස |
|||
| පරාමිතිය |
HTMF |
HTHF |
HTSF |
| ආවරණ විෂ්කම්භය (um) |
50± 2.5 |
62.5± 2.5 |
- |
| ආවරණ විෂ්කම්භය (um) |
125± 1.0 |
125± 1.0 |
125± 1.0 |
| ආවරණ නොවන චක්රලේඛය (%) |
≤1 |
≤1 |
≤1 |
| හරය / ආවරණ සාන්ද්‍රණය (um) |
≤2 |
≤2 |
≤0.8 |
| ආෙල්පන විෂ්කම්භය (um) |
245±10 |
245±10 |
245±10 |
| ආෙල්පන / ආවරණ සාන්ද්‍රණය (um) |
≤12 |
≤12 |
≤12 |
| සංඛ්‍යාත්මක විවරය (NA) |
0.200± 0.015 |
0.275± 0.015 |
- |
| මාදිලියේ ක්ෂේත්‍ර විෂ්කම්භය (um) @1310nm |
- |
- |
9.2±0.4 |
| මාදිලියේ ක්ෂේත්‍ර විෂ්කම්භය (um) @1550nm |
- |
- |
10.4 ± 0.8 |
| කලාප පළල(MHz.km) @850nm |
≥300 |
≥160 |
- |
| කලාප පළල (MHz.km) @1300nm |
≥300 |
≥300 |
- |
| සාධනය teet මට්ටම (kpsi) |
100 |
100 |
100 |
| මෙහෙයුම් උෂ්ණත්ව පරාසය (°C) |
-55 සිට +200 දක්වා |
-55 සිට +200 දක්වා |
-55 සිට +200 දක්වා |
| කෙටි කාලීන (°C)(දින දෙකකින්) |
200 |
200 |
200 |
| දිගු කාලීන (°C) |
150 |
150 |
150 |
| අඩුවීම (dB/km) @1550nm |
- |
- |
≤0.25 |
| අඩුවීම (dB/km) |
≤0.7 @1300nm |
≤0.8 @1300nm |
≤0.35@1310nm |
| අඩුවීම (dB/km) @850nm |
≤2.8 |
≤3.0 |
- |
| කැපුම් තරංග ආයාමය |
- |
- |
≤ 1290nm |
උපරිම වැඩ කරන උෂ්ණත්වය අංශක 350 කි
| පොලිමයිඩ් ආලේපනයක් ලෙස | |||
| පරාමිතිය | HTMF | HTHF | HTSF |
| ආවරණ විෂ්කම්භය (um) | 50± 2.5 | 62.5± 2.5 | - |
| ආවරණ විෂ්කම්භය (um) | 125± 1.0 | 125± 1.0 | 125± 1.0 |
| ආවරණ නොවන චක්රලේඛය(%) | ≤1 | ≤1 | ≤1 |
| හරය / ආවරණ සාන්ද්‍රණය (um) | ≤2.0 | ≤2.0 | ≤0.8 |
| ආෙල්පන විෂ්කම්භය (um) | 155±15 | 155±15 | 155±15 |
| ආෙල්පන / ආවරණ සාන්ද්‍රණය (um) | 10 | 10 | 10 |
| සංඛ්‍යාත්මක විවරය(NA) | 0.200± 0.015 | 0.275± 0.015 | - |
| මාදිලියේ ක්ෂේත්‍ර විෂ්කම්භය (um) @1310nm | - | - | 9.2±0.4 |
| මාදිලියේ ක්ෂේත්‍ර විෂ්කම්භය (um) @1550nm | - | - | 10.4 ± 0.8 |
| කලාප පළල(MHz.km) @850nm | ≥300 | ≥160 | - |
| කලාප පළල (MHz.km) @1300nm | ≥300 | ≥300 | - |
| සාධන මට්ටම (kpsi) | 100 | 100 | 100 |
| මෙහෙයුම් උෂ්ණත්ව පරාසය (°C) | -55 සිට +350 දක්වා | -55 සිට +350 දක්වා | -55 සිට +350 දක්වා |
| කෙටි කාලීන (°C)(දින දෙකකින්) | 350 | 350 | 350 |
| දිගු කාලීන (°C) | 300 | 300 | 300 |
| අඩුවීම(dB/km) @1550nm | - | - | 0.27 |
| අඩුවීම(dB/km) | ≤1.2 @1300nm | ≤1.4@1300nm | ≤0.45@1310nm |
| අඩුවීම(dB/km) @850nm | ≤3.2 | ≤3.7 | - |
| කැපුම් තරංග ආයාමය | - | - | ≤1290 nm |
දුර්වල කිරීමේ පරීක්ෂණය, 1 ~ 2g ආතතීන් 35cm ට වඩා විශාල විෂ්කම්භයක් සහිත තැටියක තන්තු එතීම
